Seminare

In den ZEISS Metrology Centern

Hier finden Sie alle aktuellen ZEISS Seminare, die in den ZEISS Metrology Centern in Deutschland stattfinden. Erhalten sie fundierte Kenntnisse zu Fachgebieten und optimieren Sie so Ihre Messprozesse.

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Recommendations
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Seminar Rauheit

Tolerierung und Messung von Oberflächenparameter

Die Oberflächenrauheit ist eine Gestaltabweichung, die durch spanende Bearbeitung, chemische oder physikalische Einwirkungen verursacht wird.Lernen Sie in unserem Seminar mehr über Rauheitsprofile, Oberflächenmessgrößen und Oberflächenbeschaffenheit.

Inhalte und Termine des Seminars

Seminar Geometrische Produktspezifikationen (GPS)

Prüfgerechte Tolerierung von Form, Maß und Lage

Erfahren Sie in unserem 2-tägigen Seminar mehr über das Anwenden der neuen GPS-Normen und die prüfgerechte Tolerierung von Maß, Form und Lage. Besuchen Sie uns dazu in unserem ZEISS Metrology Center Köln oder Garching.  

Inhalte und Termine des GPS Seminars

PiWeb reporting Praxisseminar

Der Reporting-Standard bei ZEISS

Mit ZEISS CALYPSO 2017 wird ZEISS PiWeb reporting als neuer Reporting-Standard eingeführt. Erfahren Sie, was Sie beim Umstellen vom bisherigen Präsentationsprotokoll von ZEISS CALYPSO auf das neue ZEISS PiWeb reporting Protokoll beachten müssen und testen Sie die Software direkt selbst. Kommen Sie dazu am 15. März 2018 in unserem ZEISS Metrology Center in Ostfildern bei Stuttgart vorbei.

Zur Anmeldung