ZEISS Industrial Quality Solutions

ZEISS Industrial Quality Solutions

Crear éxito del cliente

Su socio en metrología industrial multidimensional

ZEISS Industrial Quality Solutions es un fabricante líder de soluciones de metrología multidimensional. Entre ellos se incluyen máquinas de medición por coordenadas, sistemas ópticos y multisensor, sistemas de microscopía para el aseguramiento de la calidad industrial, así como software de metrología para las industrias aeroespacial, automotriz, ingeniería mecánica, plásticos y tecnología médica. Tecnologías innovadoras como la metrología 3D por rayos X para la inspección de calidad completan nuestro portafolio. Además, ZEISS Industrial Quality Solutions ofrece un amplio espectro global de servicios al cliente con ZEISS Quality Excellence Centers cerca de sus clientes. La empresa tiene su sede en Oberkochen. Las plantas de producción y desarrollo fuera de Alemania se encuentran en Minneapolis (EE.UU.), Shanghai (China) y Bangalore (India). ZEISS Industrial Quality Solutions forma parte del segmento de Industrial Quality & Research.

La descarbonización es un factor clave para la transformación del mercado

La descarbonización es un factor clave para la transformación del mercado

Las soluciones de calidad de ZEISS son un ejemplo de precisión y rendimiento. Nuestros sistemas y software marcan las pautas del sector y garantizan el aumento de productividad que necesitan los fabricantes. Como pioneros, siempre tenemos que pensar un paso adelante: Un compromiso claro con acciones empresariales y sostenibles forma parte integrante de una industria en proceso de cambio debido a las nuevas tecnologías, los procesos de manufactura y las nuevas especificaciones de los clientes.

  • 100 años de Industrial Metrology en ZEISS

    Acompáñenos en un viaje en el tiempo

  • Fundación «ZEISS Fine Measurement Department»
    1919
    1919

    Fundación «ZEISS Fine Measurement Department»

    1ª Presentación de instrumentos de medición en Leipzig Spring Fair.

  • Primeros grandes dispositivos
    1920
    1920

    Primeros grandes dispositivos: Optímetro, microscopios de medición de taller y calibradores

    El recién desarrollado optímetro de ZEISS en 1920 fue, posiblemente, el primer instrumento de medición de la historia que integraba la óptica en la mecánica de precisión.

  • 1926
    1926

    Primer microscopio de medición universal

    ZEISS también protagonizó un importante hito tecnológico con el microscopio de medición universal ZEISS lanzado al mercado en 1926.

  • Nuevo microscopio de medición universal de ZEISS
    1953
    1953

    Nuevo microscopio de medición universal

    En 1950, ZEISS empezó a crear su «Department for Technical Measuring Instruments». El objetivo del departamento era diseñar instrumentos de medición completamente nuevos.

  • 1963
    1963

    Primeros instrumentos de medición digitales

    En los años sesenta se vislumbraba una revolución en la tecnología de medición: Instrumentos de medición con valores de salida numérico-electrónico.

  • UMM 500: Máquina de medición de tres coordenadas de alta precisión con sensor de medición, computadora de mesa y software de medición propio.
    1973
    1973

    UMM 500: Máquina de medición de tres coordenadas de alta precisión

    En 1973, se desarrolló la primera máquina de medición de coordenadas tridimensional de alta precisión con un palpador de medición, una mesa integrada, una computadora y su propio software de medición.

  • El «Fine Measurement Department» se renombra «Industrial Metrology (IMT)».
    1977
    1977

    El "Fine Measurement Department" se renombra "Industrial Metrology (IMT)"

    El «Fine Measurement Department» se renombra «Industrial Metrology (IMT)».

  • Serie WMM para uso relacionado con la producción con un nuevo tipo de cojinete neumático.
    1978
    1978

    Serie WMM para producción

    El lanzamiento al mercado en 1978 de la nueva gama de máquinas de medición para producción ZEISS WMM suponía un paso más hacia el futuro de la medición.

  • 1983
    1983

    Primer proveedor de un cambiador de palpador CNC para CMM

    Una importante innovación de ZEISS IMT de 1983 fue el cambiador automático de palpadores CNC para máquinas de medición de coordenadas.

  • Por primera vez, programación CAD de secuencias de medición CNC utilizando el modelo de pieza almacenado.
    1985
    1985

    Por primera vez, programación CAD de secuencias de medición CNC

    Tiempos de medición reducidos gracias a los procedimientos CAA y la programación CAD.

  • ZEISS CALYPSO
    1995
    1995

    ZEISS CALYPSO

    ZEISS CALYPSO: un concepto de software revolucionario para la medición CAD.

  • CenterMax
    2001
    2001

    ZEISS CenterMax

    Dispositivo para piso producción con medición a temperatura estable como en la sala de medición.
     

  • Tomógrafos computarizados para aplicaciones industriales y metrotomografía en el rango micrométrico.
    2006
    2006

    ZEISS METROTOM

    Tomógrafos computarizados para aplicaciones industriales, metrotomografía en el rango micrométrico.

  • ZEISS XENOS
    2014
    2014

    ZEISS XENOS

    La máquina de medición de coordenadas utiliza tecnología innovadora para avanzar hacia nuevas áreas de precisión y dinámica, estableciendo así nuevos estándares.

Nuestros clientes abarcan muchos sectores diferentes

Electromovilidad, transición energética, ciclos de vida rápidos, cadenas de producción internacionales, piezas complejas: nuestros mercados cambian rápidamente. No sólo la industria automotriz siente el viento del cambio: Los procesos y tecnologías de producción también están cambiando en el sector aeroespacial, la ingeniería médica, la industria electrónica y el sector energético. Al mismo tiempo, las especificaciones de calidad de los productos son más exigentes. Estamos al lado de nuestros clientes y les ofrecemos una colaboración sólida y fiable mientras afrontan estos retos. Juntos, nos centramos en optimizar y desarrollar el aseguramiento de la calidad. Queremos aumentar la productividad de las empresas y situarnos a la cabeza de la competencia, hoy y mañana.