Tomografía computarizada industrial con ZEISS METROTOM
Con un tomógrafo computarizado industrial de ZEISS se pueden realizar trabajos de medición e inspección de manera eficaz con un solo escaneo de rayos X. La prueba de conformidad reglamentaria, la mecánica de precisión empleada y el sofisticado método de calibración aseguran la trazabilidad del sistema. Las guías lineales y la mesa giratoria cumplen las más altas exigencias de precisión de los clientes.
Un nuevo nivel de simplicidad en tecnología CT
ZEISS METROTOM 1
¿Le gustaría examinar el interior de sus piezas de plástico o metal ligero, pero la tomografía computarizada le resulta demasiado compleja? Descubra la incorporación más reciente a la familia ZEISS METROTOM, que le permitirá sumergirse en el mundo de la tecnología de los rayos X y en sus componentes con la máxima sencillez posible.
La tercera generación de ZEISS METROTOM 1500
Utilice hoy un control de calidad preparado para el futuro
La gama ZEISS METROTOM lleva doce años ofreciendo una tecnología CT de confianza para el control de calidad. La tercera generación del sistema de tomografía computarizada (CT) ZEISS METROTOM 1500 es la prueba de que una tecnología de rayos X fiable y avanzada ya es posible hoy en día. Ya puede poner a prueba hoy su control de calidad del futuro.
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La puerta en la parte frontal que permite al trabajador entrar en el sistema y utilizarla como punto de acceso para el mantenimiento, permite cargar componentes más grandes y pesados con mayor comodidad. Gracias a ello, el usuario puede realizar mediciones por CT de forma fácil, segura y precisa.
Tanto para el transporte, la instalación, el mantenimiento y el espacio necesario en el laboratorio del cliente: cuanto más pequeño sea el sistema, mejor. El diseño de la cabina del sistema CT industrial más grande de ZEISS se ha orientado totalmente a dar un uso eficiente al espacio.
Ver más.
La tercera generación incluye un nuevo detector 3k que genera conjuntos de datos de volumen 3D con mayor resolución; es decir, con una cantidad de vóxeles mayor es posible detectar defectos más pequeños.
Más rápido.
El tiempo del escaneado se puede reducir hasta en un 75 % mediante los distintos modos de operación del detector, además de conseguir un tamaño de vóxel comparable al de un detector 2k.
Gama ZEISS METROTOM
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ZEISS METROTOM 800 de 130 kV
Para mediciones de piezas de plástico con alta precisión
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Tamaño de la pieza |
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ZEISS METROTOM 800 de 225 kV
Para escaneos rápidos y piezas con mayor densidad
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ZEISS METROTOM 1500
Tecnología CT avanzada para escaneos rápidos de piezas grandes
Tamaño de la pieza |
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Medir fácilmente con ZEISS METROTOM
![Inspección metrológica de un componente de metal ligero]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom/x-ray-inspection-light-metal-ndt-neo-insight-computed-tomography.ts-1522767116642.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=7463ed65e63f82ec238d2f54f91a3f3d","large":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom/x-ray-inspection-light-metal-ndt-neo-insight-computed-tomography.ts-1522767116642.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=9f3cff7f9a2f1a99cea787555b0816bf","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom/x-ray-inspection-light-metal-ndt-neo-insight-computed-tomography.ts-1522767116642.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=85f0fad908cde7a7791a05192478f98e","full":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom/x-ray-inspection-light-metal-ndt-neo-insight-computed-tomography.ts-1522767116642.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=5629a8f426e74eef4c04385cfb9a895f"} "Inspección metrológica de un componente de metal ligero")
Medición e inspección de componentes enteros
ZEISS METROTOM es un tomógrafo computarizado industrial utilizado para medir e inspeccionar componentes enteros de plástico o metal ligero. Con la tecnología de medición tradicional, las estructuras ocultas solamente se pueden inspeccionar tras un largo proceso de destrucción del componente capa por capa.
Medir muchas características con precisión y sin esfuerzo
Con el sistema de tomografía computarizada ZEISS METROTOM se escanean numerosas características de componente de una sola pasada. Las mediciones resultantes son precisas y trazables. Comparado con el proceso de medición táctil, ZEISS METROTOM es considerablemente más rápido en la captura de muchos puntos de medición.
![Medición de una base para clavija.]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom/x-ray-software-defectanalysis-ndt-computed-tomography-quality-control.ts-1520345349554.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=0%2C45%2C1000%2C563&w=640&s=753802439a3a448507feac147870290c","large":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom/x-ray-software-defectanalysis-ndt-computed-tomography-quality-control.ts-1520345349554.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=0%2C45%2C1000%2C563&w=1280&s=c86e0af377c76d1785d06a2bf619e238","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom/x-ray-software-defectanalysis-ndt-computed-tomography-quality-control.ts-1520345349554.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=0%2C45%2C1000%2C563&w=832&s=a7907a7842f1007b864e36ec66783b4f","full":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom/x-ray-software-defectanalysis-ndt-computed-tomography-quality-control.ts-1520345349554.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=0%2C45%2C1000%2C563&w=1920&s=f427610b3b9da2069b6e2ee6307871ab"} "Medición de una base para clavija.")
Análisis completo de datos por CT en 3D
El software de análisis GOM Volume Inspect, fácil de usar y adecuado incluso para principiantes, permite realizar un análisis completo de datos por CT en 3D. Se pueden analizar con precisión geometrías, cavidades por contracción o estructuras internas y ensamblajes. Se pueden ver hasta los defectos más pequeños mediante imágenes de secciones individuales y se pueden evaluar automáticamente en función de distintos criterios. También puede cargar datos del volumen de varios componentes en un proyecto, realizar un análisis de las tendencias y compararlo con los datos CAD. De esta forma, se puede determinar y documentar con exactitud la calidad del componente, y todo ello con un solo software.
![]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom/siv-bearbeitet.ts-1591604650123.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=84eb1a44d6c2613880563b02418aa9e3","large":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom/siv-bearbeitet.ts-1591604650123.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=b95dd259abbe4b308ca164e83f71ec6e","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom/siv-bearbeitet.ts-1591604650123.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=bbb316e41a03c5c9d845e8a7a7f0e578","full":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom/siv-bearbeitet.ts-1591604650123.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=377a78e8ef5c214e7875949f23971668"})
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ZEISS Automated Defect Detection (ZADD)
Artificial intelligence in computed tomography
The ZADD add-on in GOM Volume Inspect detects even small and fuzzy defects in components reliably, quickly and automatically, ZADD detects, localizes and classifies defects or anomalies while analyzing them in detail by reading CT-scans. The software add-on is applicable for castings, injection molded parts, batteries printed components and other applications.
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Calibración DAkkS para una mayor confianza
Las exigencias cada vez más estrictas de los sectores automovilístico, médico y farmacéutico hacen necesario recurrir a procedimientos de examen por CT acreditados. Con ellos se garantiza una medición de las piezas objetiva y de conformidad con la norma VDI/VDE 2630, parte 1.3. El certificado DAkkS se acepta en todo el mundo, lo que elimina el costo que suponen las evaluaciones múltiples. La calibración DAkkS también está ahora disponible para los tomógrafos computarizados de la serie ZEISS METROTOM 800 y 1500. Aproveche sus ventajas: ahorre gastos y genere más confianza entre sus clientes.
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Opciones disponibles
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Cambiador de filtro automático
Gracias al cambiador de filtro automático, ya no es necesario realizar un ajuste previo manual del filtro para escanear una amplia variedad de piezas de diferentes materiales y composiciones. De este modo, puede conseguir resultados fiables en menos tiempo.
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ZEISS FixAssist CT
Con ZEISS FixAssist CT puede reducir los tiempos de inactividad de la máquina hasta en un 80 %. Solo tiene que colocar la pieza en el pallet fuera de la máquina antes de la medición, colocar la pieza preajustada en el sistema de tomografía computarizada y empezar a escanear inmediatamente.
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ZEISS Tomostage
¿Le gustaría capturar varias piezas con solo un barrido? Puede hacerlo con la torre de fibra de carbono desarrollada específicamente para las aplicaciones de CT. Así podrá reducir drásticamente los tiempos de medición por pieza y aumentar el rendimiento.
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