![]({"xsmall":"https://www.zeiss.com.mx/content/dam/rms/countries/mexico/webmatmaylanding.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.56.96,0,503,229.file/webmatmaylanding.jpg","small":"https://www.zeiss.com.mx/content/dam/rms/countries/mexico/webmatmaylanding.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.203.96,0,503,229.file/webmatmaylanding.jpg","medium":"https://www.zeiss.com.mx/content/dam/rms/countries/mexico/webmatmaylanding.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.407.229.96,0,503,229.file/webmatmaylanding.jpg","large":"https://www.zeiss.com.mx/content/dam/rms/countries/mexico/webmatmaylanding.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.407.229.96,0,503,229.file/webmatmaylanding.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.com.mx/content/dam/rms/countries/mexico/webmatmaylanding.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.407.229.96,0,503,229.file/webmatmaylanding.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.com.mx/content/dam/rms/countries/mexico/webmatmaylanding.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.407.229.96,0,503,229.file/webmatmaylanding.jpg","max":"https://www.zeiss.com.mx/content/dam/rms/countries/mexico/webmatmaylanding.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.407.229.96,0,503,229.file/webmatmaylanding.jpg"})
Software para análisis de materiales con microscopía y segmentación por IA
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![]({"xsmall":"https://www.zeiss.com.mx/content/dam/rms/countries/mexico/webmatmaylanding2.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.67.0,34,817,579.file/webmatmaylanding2.jpg","small":"https://www.zeiss.com.mx/content/dam/rms/countries/mexico/webmatmaylanding2.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.240.0,34,817,579.file/webmatmaylanding2.jpg","medium":"https://www.zeiss.com.mx/content/dam/rms/countries/mexico/webmatmaylanding2.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.768.512.0,34,817,579.file/webmatmaylanding2.jpg","large":"https://www.zeiss.com.mx/content/dam/rms/countries/mexico/webmatmaylanding2.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.817.545.0,34,817,579.file/webmatmaylanding2.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.com.mx/content/dam/rms/countries/mexico/webmatmaylanding2.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.817.545.0,34,817,579.file/webmatmaylanding2.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.com.mx/content/dam/rms/countries/mexico/webmatmaylanding2.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.817.545.0,34,817,579.file/webmatmaylanding2.jpg","max":"https://www.zeiss.com.mx/content/dam/rms/countries/mexico/webmatmaylanding2.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.817.545.0,34,817,579.file/webmatmaylanding2.jpg"})
Software para análisis de materiales con microscopía y segmentación por IA
Únase con Arturo Vargas Olivares, Especialista de Producto de Microscopía Electrónica y de Rayos X el 29 de mayo a las 11:00 a.m.
Temas principales:
- Métodos tradicionales de análisis de imágenes.
- Correlatividad entre diferentes tipos de microscopía.
- Aplicaciones de la inteligencia artificial en el análisis y procesamiento de imágenes.
Resumen
La inteligencia artificial ha cobrado cada vez más importancia para la resolución de problemas en diferentes disciplinas. Durante esta plática se abordarán las técnicas tradicionalmente utilizadas en academia e industria para el análisis de materiales con microscopía y la introducción de la inteligencia artificial como una herramienta para la segmentación de imágenes complejas.
![]({"xsmall":"https://www.zeiss.com.mx/content/dam/rms/countries/mexico/arturovargas.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.100.file/arturovargas.jpg","small":"https://www.zeiss.com.mx/content/dam/rms/countries/mexico/arturovargas.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.360.file/arturovargas.jpg","medium":"https://www.zeiss.com.mx/content/dam/rms/countries/mexico/arturovargas.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.768.768.file/arturovargas.jpg","large":"https://www.zeiss.com.mx/content/dam/rms/countries/mexico/arturovargas.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1024.1024.file/arturovargas.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.com.mx/content/dam/rms/countries/mexico/arturovargas.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1280.1280.file/arturovargas.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.com.mx/content/dam/rms/countries/mexico/arturovargas.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1440.1440.file/arturovargas.jpg","max":"https://www.zeiss.com.mx/content/dam/rms/countries/mexico/arturovargas.jpg/_jcr_content/renditions/original./arturovargas.jpg"})
Experiencia laboral:
Arturo es Ingeniero en Mecatrónica egresado de la Unidad Profesional Interdisciplinaria en Ingeniería y Tecnologías Avanzadas del IPN. Durante sus más de 15 años de experiencia laboral ha sido ingeniero de servicio especializado en microscopía electrónica, haz de iones enfocado y microscopía fotónica, recibiendo entrenamiento en Estados Unidos, Alemania y Reino Unido y dando soporte tanto a nivel nacional como internacional. Actualmente se desempeña como especialista de aplicaciones en microscopía electrónica y de rayos X para ZEISS México.