ZEISS METROTOM 1500

ZEISS METROTOM 1500

Un sistema de CT. Muchas aplicaciones.

Con ZEISS METROTOM 1500, obtendrá una tecnología de CT avanzada que detecta defectos de forma fiable mediante la captura y medición de defectos bajo la superficie. Lo que hace diferente a este CT: Proporciona imágenes rápidas y de alta resolución para piezas pequeñas y grandes, y todo lo que hay entre medio.

  • Escaneo de alta velocidad
  • Calidad de imagen de CT detallada
  • Metrología precisa (VDI/VDE 2630 1.3)
  • Certificación DAkkS opcional
  • Espacio mínimo requerido

Ventajas

Mejor calidad de imagen
Mejor calidad de imagen

Mejor calidad de imagen

Alta resolución y precisión trazable

ZEISS METROTOM 1500 ofrece una calidad de imagen excepcional que muestra con claridad incluso los defectos más pequeños. El software AMMAR, BHC y el módulo de hardware ZEISS scatterControl marcan la diferencia para una calidad inigualable. Además, el CT está especificado de acuerdo con la directriz VDI/VDE 2630 sobre precisión trazable.

Gracias al alto nivel de experiencia en metrología de ZEISS, que también se utiliza en la tecnología CT, puede confiar en una alta precisión de medición. Se garantiza un MPE(SD) de 4.5 + L/50 μm según VDI/VDE 2630 Hoja 1.3 en todo el campo de visión: para resultados de medición en los que puede confiar.

Versatilidad del sistema

Versatilidad del sistema

Adecuado para una gran variedad de piezas y aplicaciones

ZEISS METROTOM 1500 escanea piezas pequeñas con una resolución muy alta y piezas de hasta 615 mm de diámetro y 800 mm de altura como una reconstrucción completa. Esto se consigue ampliando el campo de visión tanto horizontal como verticalmente. Gracias a su tubo flexible con un punto focal de sólo unos micrómetros en un lado y una potencia máxima de 500 W en el otro, se pueden escanear piezas pequeñas con una resolución muy alta y piezas grandes en poco tiempo. Esto hace que el sistema sea ideal para muchas aplicaciones

Calibración DAkkS  Su puerta de acceso a mediciones fiables

Calibración DAkkS

Su puerta de acceso a mediciones fiables

Las normas de calidad más exigentes de la industria automotriz, médica o farmacéutica requieren con frecuencia la aplicación de procedimientos acreditados de inspección por CT. Garantizan una medición objetiva y conforme a la norma de las piezas según VDI/VDE 2630 Parte 1.3. La calibración DAkkS también está disponible para la serie ZEISS METROTOM 1500 de tomógrafos computarizados industriales. Benefíciese del valor añadido: ahorre en costos y genere más confianza a sus clientes.

Diseño inteligente para un espacio limitado

Diseño inteligente para un espacio limitado

Uso más eficiente del espacio

El tamaño relativamente pequeño y la inteligente construcción de la puerta, tanto para el servicio como para la carga de piezas, permiten una instalación flexible, lo que le permite adaptar el CT a su laboratorio de medición incluso si el espacio es limitado. Para ayudarlo a aprovechar al máximo el espacio disponible, hemos ampliado además el volumen de medición reduciendo al mismo tiempo el espacio ocupado: Mida e inspeccione piezas de 870 mm de altura en un espacio de 3,7 x 1,8 metros: la mejor relación sistema/volumen de pieza disponible en el mercado.

Inspeccionar componentes completos

Inspeccionar componentes completos

Ideal para piezas multimaterial

Con la tecnología de medición tradicional, las estructuras ocultas solamente se pueden inspeccionar tras un largo y caro proceso de destrucción del componente capa por capa. ZEISS METROTOM 1500, sin embargo, es un sistema de tomografía computarizada industrial para medir e inspeccionar componentes completos de plástico y/o metal ligero o incluso cobre o acero.

ZEISS scatterControl​  ​
ZEISS METROTOM scatterControl

ZEISS scatterControl

Excepcional calidad de imagen de CT

La solución de hardware ZEISS scatterControl mejora significativamente la calidad de imagen de ZEISS METROTOM 1500 reduciendo al mínimo los artefactos de dispersión de las exploraciones por CT. Esto facilita los pasos posteriores de tratamiento y evaluación de datos, lo que da como resultado una determinación de superficies y un análisis de defectos aún más precisos.

 Descubra más ventajas de ZEISS METROTOM 1500.

Control de calidad preparado para el futuro

Control de calidad preparado para el futuro 
Inspección y medición de piezas más grandes

La tercera generación de ZEISS METROTOM 1500 permite medir piezas más grandes en una reconstrucción gracias a un volumen de medición ampliado: Con el sistema de posicionamiento de nuevo diseño, las piezas de hasta 870 mm de altura caben en el CT sin necesidad de reposicionarlas.

Espacio mínimo requerido

Tanto para el transporte, la instalación, el mantenimiento y el espacio necesario en el laboratorio del cliente: cuanto más pequeño sea el sistema, mejor. El diseño de la cabina del sistema CT industrial más grande de ZEISS se ha orientado totalmente a dar un uso eficiente al espacio, dando como resultado una huella de tan sólo 6,7 m2.

Funcionamiento más cómodo

La puerta frontal permite al operador entrar en el sistema y utilizarlo como punto de acceso de servicio, lo que hace más cómoda la carga de componentes más grandes y pesados. Gracias a ello, el usuario puede realizar mediciones por CT de forma fácil, segura y precisa. Dado que ZEISS METROTOM 1500 no necesita un espacio adicional significativo encima, detrás o en los laterales, el sistema puede instalarse de forma muy flexible.

Aplicaciones

  • Industria

    Industria

    Adecuado para piezas de metal ligero, materiales compuestos, piezas multimaterial, piezas de plástico y manufactura aditiva.

  • Turbina aeroespacial

    Sector aeroespacial

    Muy adecuado para el escaneado fiable de, por ejemplo, álabes de titanio, acero o material compuesto, para cumplir con las normas de la industria y los requisitos de seguridad.

  • Horquilla para motores automotrices

    Automotriz

    Ideal para escanear motores, componentes del tablero y piezas de fundición de aluminio como tapas de cilindro o cubiertas de estator.

  • Médico

    Médico

    Escaneo preciso de piezas médicas como inyectores, implantes, inhaladores o marcapasos.

  • Placa base electrónica

    Electrónica

    Escanea con seguridad conectores, baterías, placas de circuito impreso y otros componentes eléctricos.

  • ZEISS INSPECT X-Ray Análisis exhaustivo de datos por CT en 3D

    ZEISS INSPECT X-Ray

    Análisis completo de datos por CT en 3D

    El software de análisis fácil de usar ZEISS INSPECT X-Ray permite el análisis completo de datos por CT en 3D; automatizado o personalizado y adecuado incluso para principiantes. Se pueden analizar con precisión geometrías, cavidades por contracción o estructuras internas y ensamblajes. Incluso los pequeños defectos se hacen visibles a través de imágenes por sección individuales. También puede cargar datos de volumen de varios componentes en un proyecto, realizar un análisis de tendencias y comparar los resultados con los datos CAD, todo en un solo software.

  • ZEISS Automated Defect Detection (ZADD)

    ZEISS Automated Defect Detection (ZADD)

    Inteligencia artificial en tomografía computarizada

    El complemento ZADD de ZEISS INSPECT X-Ray detecta incluso los defectos más pequeños y difusos de forma fiable, rápida y automática. ZADD detecta, localiza y clasifica estos defectos o anomalías a la vez que los analiza en detalle mediante la lectura de tomografías computarizadas. El complemento de software se ha desarrollado especialmente para aplicaciones como piezas de fundición, piezas moldeadas por inyección y componentes impresos.

  • ZEISS PiWeb Transforme datos de calidad en resultados significativos

    ZEISS PiWeb

    Transforme datos de calidad en resultados significativos

    El software ZEISS PiWeb Informes y gestión de datos de calidad ayuda a conectar los resultados de metrología de diferentes tecnologías de medición con las decisiones del taller, para realizar un seguimiento eficaz de la calidad de su producción y obtener resultados inmediatos. Utilice ZEISS PiWeb para realizar estudios GR&R, controlar la gestión de datos de calidad, trabajar con datos manuales, crear potentes estadísticas y beneficiarse de varias plantillas de informes estándar listas para usar.

Características de ZEISS METROTOM OS

Soluciones informáticas para escaneos por CT eficientes 

  • Reducción avanzada de artefactos de materiales mixtos (AMMAR)

    Reducción avanzada de artefactos de materiales mixtos (AMMAR)

    Vea más detalles en sus piezas en la transición del metal al plástico: El proceso de corrección AMMAR reduce significativamente los artefactos que se producen al escanear piezas con materiales y grosores diferentes, especialmente en piezas tipo conector con metal y plástico.

  • Extensión del detector horizontal virtual (VHD)

    Extensión del detector horizontal virtual (VHD)

    Medir piezas más anchas que el detector: VHD aumenta el diámetro de volumen posible de sus capturas hasta en un 80 %. Permite escanear piezas que son significativamente más anchas que el detector o piezas más pequeñas con tamaños de vóxel más pequeños y, por lo tanto, resoluciones más altas.

  • VolumeMerge

    VolumeMerge

    El sistema de posicionamiento de extraordinaria precisión, para el que hemos aplicado nuestros conocimientos del mundo de la medición táctil, ha aumentado el tamaño de los componentes que se reconstruyen en el sistema hasta 870 mm de altura. Esto significa que los componentes de gran tamaño pueden capturarse totalmente en un solo proceso automatizado, eliminando así la necesidad de que el usuario tenga que reposicionarlos y alinearlos, lo que lleva mucho tiempo.

  • ShortScan

    ShortScan

    ShortScan es un modo de exploración en el que una pieza sólo necesita realizar un poco más de media rotación en lugar de una rotación completa. Esto le permite escanear regiones específicas en partes con mayor resolución que, de otro modo, estarían geométricamente limitadas con una rotación completa.

  • Separación

    Separación

    La separación automática aumenta la productividad al explorar varios componentes a la vez y evaluarlos automáticamente por separado, lo que reduce significativamente el tiempo de exploración y el esfuerzo de interacción del operador.

Familia ZEISS METROTOM

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