
ZEISS Visioner 1
Microscopio digital con tecnología MALS™, inspección óptica todo-enfoque en tiempo real
Los sistemas de inspección clásicos ofrecen poca profundidad de campo, lo que significa que algunas partes de la muestra pueden no estar enfocadas, lo que puede provocar que se pierdan características, fatiga del usuario e inspecciones incompletas.
ZEISS Visioner 1 revoluciona el mundo de la inspección óptica y la documentación. Impulsada por el exclusivo sistema de lentes Micro-mirror Array (tecnología MALSTM), permite por primera vez la obtención de imágenes todo-en-foque en tiempo real, en el primer intento y en todo momento.
Profundidad de campo ampliada (EDoF) en tiempo real
EDoF es un proceso en el que se combinan varias imágenes a través del plano focal para crear una imagen enfocada.
Con los sistemas de microscopía clásicos, esto puede llevar mucho tiempo y ser complejo. ZEISS Visioner 1 permite al usuario ver la muestra completamente enfocada en tiempo real, sin necesidad de apilar en Z y procesar posteriormente una serie de imágenes.
La exclusiva tecnología Micro-mirror Array Lens System (MALS™) permite una profundidad de campo ampliada (EDoF) en tiempo real.
Reformular las reglas de la óptica
Tecnología Micro-mirror Array Lens System (MALS™)
MALS™ permite enfocar la inspección óptica para diferencias de altura de hasta 69 mm. Sin necesidad de apilar en Z ni de volver a enfocar.
El uso de un sistema de lentes de microespejos (MALS™) nos permite generar lentes "virtuales" con curvaturas claramente distintas y, por lo tanto, planos de enfoque diferentes. Esto se consigue cambiando la orientación de cada microespejo de forma orquestada.
La remodelación de la curvatura de esta lente "virtual" a gran velocidad permite un enfoque ultrarrápido y la obtención de imágenes y documentación de enfoque total en tiempo real.

ZEISS Visioner 1 impulsado por la tecnología MALS™
- Profundidad de campo ampliada hasta 100 veces más utilizable
- Permite diferencias de altura de hasta 69 mm
- Conjunto de microespejos reflectores con curvaturas (variables) dispuestos en un plano llano
- Cada microespejo mide aproximadamente 100 x 100 µm
- Cada microespejo gira y traduce para formar las superficies ópticas con curvaturas variables
- Sin necesidad de apilar en Z ni de volver a enfocar

La visualización 3D más rápida con documentación
Aplicaciones
Comparación de imágenes de un tablero eléctrico y una aguja, utilizando un método de inspección clásico frente a ZEISS Visioner 1. Gracias a la nueva tecnología MALS™, la pieza puede visualizarse totalmente enfocada, en el primer intento y en todo momento.


Cuadro eléctrico
Inspección por microscopio clásico


Cuadro eléctrico
Inspección por ZEISS Visioner 1


Aguja
Inspección por microscopio clásico

