
ZEISS GeminiSEM
El líder de su clase en flexibilidad de muestras
Descubra lo desconocido y satisfaga las más altas exigencias en imágenes subnanométricas, análisis y flexibilidad de muestras con un SEM de emisión de campo. El sistema permite realizar análisis de alto rendimiento a la vez que proporciona una excelente resolución a bajo voltaje, alta velocidad y alta corriente de sonda.
ZEISS GeminiSEM para la industria
Experimente una nueva calidad en la inspección de sus muestras.

El sistema permite realizar análisis de alto rendimiento a la vez que proporciona una excelente resolución a bajo voltaje, alta velocidad y alta corriente de sonda. Con su generoso campo de visión y su cámara extremadamente espaciosa, es fácil examinar incluso muestras muy grandes.
ZEISS GeminiSEM ofrece una caracterización eficaz de la composición química y la orientación de los cristales con dos puertos EDS diametralmente opuestos y una configuración EDS/EBSD coplanar. Confíe en un mapeado sin sombras a alta velocidad.
Personalice y automatice sus flujos de trabajo: Si necesita probar materiales hasta sus límites técnicos, ZEISS pone a su disposición un laboratorio automatizado de calentamiento in situ y tensión mecánica.

Ámbitos de aplicación en resumen
- Análisis de fallos en componentes mecánicos, ópticos y electrónicos
- Análisis de fracturas y metalografía
- Caracterización de superficies, microestructuras y dispositivos
- Composición y distribución de fases
- Determinación de impurezas e inclusiones