Palpadores táctiles

Palpadores táctiles

Para una gran precisión y diversas tareas de medición

Cabezales de palpadores táctiles en la CMM

Los palpadores táctiles son la elección correcta cuando se requiere un grado de precisión muy elevado. En la tecnología de medición táctil, la superficie del componente se mide punto por punto o, en función del palpador, se explora a gran velocidad. ZEISS ofrece una amplia gama de cabezales de palpador táctil para proporcionar la solución adecuada para su aplicación.

Medición en un punto frente a la tecnología de exploración de ZEISS

El escaneado permite realizar mediciones más rápidas y precisas, ya que se miden más puntos en menos tiempo que con la medición de un solo punto.

Medición en un solo punto

Cuando se mide con palpador de punto, sólo se miden puntos individuales. A continuación, hay que mover el palpador óptico y repetir el proceso. Las condiciones entre los puntos de medición se calculan por interpolación, lo que puede dar lugar a desviaciones de la medición. La medición con palpadores de un solo punto es adecuada para rendimientos bajos y tolerancias grandes. Es posible una combinación con ZEISS RDS.

Tecnología de escaneado

Durante la exploración, el palpador se mueve de forma suave y continua, midiendo cientos de puntos a lo largo de una trayectoria en un tiempo muy corto a medida que el palpador se desplaza sobre una superficie. Este flujo de trabajo no sólo proporciona muchos más datos con un mayor rendimiento, sino que también permite ahorrar mucho tiempo.

Los palpadores de escaneo son adecuadas para altos índices de rendimiento con un excelente grado de precisión.

Medición en un solo punto
Tecnología de escaneado
Medición de puntos discretos frente a tecnología de escaneado

Ventajas de un flujo de trabajo de digitalización integrado

Mientras que las relaciones entre los puntos individuales se determinan por interpolación en la medición de un solo punto, la tecnología de escaneado puede capturar muchos más datos y lograr una mayor fiabilidad y precisión de la medición. La alta velocidad de escaneado permite un mayor rendimiento de las mediciones y comprobar el mayor número posible de piezas en busca de desviaciones. Un escaneado más rápido también significa que se necesitan menos máquinas de medición de coordenadas y que los problemas se detectan con mayor rapidez, lo que reduce los desechos y el reprocesado de piezas.

Escaneado activo

Como inventor del escaneado táctil, ZEISS lleva esta tecnología al siguiente nivel con el innovador concepto de cabezales de sonda activos. Las bobinas de fuerza y los electroimanes controlables en tiempo real permiten ejercer la menor fuerza efectiva sobre el palpador en cualquier punto de la trayectoria de exploración y seguir la geometría real. ZEISS permite así un escaneado rápido y preciso con mayor flexibilidad que nunca.

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