Control de calidad de los dispositivos médicos en diferentes segmentos de la industria de la tecnología médica
ZEISS MEDICAL INDUSTRY SOLUTIONS

Control de calidad para la I+D de dispositivos médicos

De la I+D al control de calidad de la producción en serie en la fabricación de dispositivos médicos

Supere los obstáculos de los entornos de laboratorio de investigación, desarrollo y control de calidad dentro de la industria regulada de la tecnología médica.

Los procesos y prioridades de la investigación y el desarrollo suelen ser distintos de los de la producción. La precisión, la velocidad y los ensayos no destructivos (END) innovadores son fundamentales para dominar las aplicaciones de laboratorio de control de calidad e impulsar el progreso en el campo médico. Los flujos de trabajo conectados y la microscopía correlativa están llevando las cosas a un nivel completamente nuevo.

Los fabricantes deben implementar procesos de control de calidad adecuados para gestionar los pasos detallados que conlleva la investigación y el desarrollo de dispositivos médicos, así como en los entornos de laboratorio de control de calidad. Esto les permitirá generar soluciones seguras y eficaces mientras demuestran su constante cumplimiento de las normativas médicas.

Desde CMM hasta sistemas ópticos y desde sistemas de tomografía computarizada de rayos X hasta microscopios: ZEISS lo cubre todo.
Haga clic en los marcadores para ver qué aplicaciones puede resolver la máquina en el laboratorio de I+D de dispositivos de tecnología médica.

I+D en su laboratorio de calidad

para todas las aplicaciones de dispositivos médicos

ZEISS PRISMO
2 ZEISS PRISMO

- Análisis de superficies
- END y control de ensamblaje
- Análisis dimensional

ZEISS O-INSPECT
 1 ZEISS O-INSPECT

- Análisis de superficies
- END y control de ensamblaje
- Análisis dimensional

ZEISS ARAMIS
10 ZEISS ARAMIS

- Análisis de propiedades mecánicas

ZEISS ATOS 5
9 ZEISS ATOS 5

- Análisis de superficies
- END y control de ensamblaje
- Análisis dimensional

ZEISS Smartzoom 5
8 ZEISS Smartzoom

- Inspección de defectos internos y estructurales
- Análisis de superficies
- Análisis del revestimiento

ZEISS Axio Imager
ZEISS 7 Axio Imager

- Análisis de la composición de los materiales
- Inspección de defectos internos y estructurales
- Análisis de superficies
- Análisis del revestimiento
- Análisis técnico de la limpieza

ZEISS LSM 900
6 ZEISS LSM 900

- Inspección de defectos internos y estructurales
- Análisis de superficies
- Análisis del revestimiento
- Análisis técnico de la limpieza

ZEISS Sigma
5 ZEISS Sigma

- Análisis de la composición de los materiales
- Inspección de defectos internos y estructurales
- Análisis de superficies
- Análisis del revestimiento
- Análisis técnico de la limpieza
- END y control de ensamblaje

ZEISS Versa
4 ZEISS Xradia Versa

- Análisis de la composición de los materiales
- Inspección de defectos internos y estructurales
- Análisis de superficies
- Análisis del revestimiento
- END y control de ensamblaje
- Análisis dimensional
- Análisis de propiedades mecánicas

ZEISS METROTOM
3 ZEISS METROTOM

- Inspección de defectos internos y estructurales
- Análisis de superficies
- Análisis del revestimiento
- END y control de ensamblaje
- Análisis dimensional

Soluciones de calidad

Análisis de la composición de los materiales

Análisis de la composición de los materiales

Análisis de la estructura, topografía y composición química

Desafíos:

  • Caracterización y composición química del material a granel y del polvo crudo
  • Evaluación de la calidad del material: porosidad, grietas, estructura del grano, inclusiones críticas

Su ventaja con ZEISS:

  • Microscopía óptica: capta el tamaño de las partículas de polvo grandes o de la materia prima
  • Microscopía electrónica de barrido: Las mediciones EDX automatizadas en el software ZEISS SmartPI revelan la composición química del material
  • Segmentación y autoevaluación de imágenes de porosidad, grietas e inclusión dentro de la plantilla de trabajo predefinida ZEISS ZEN core
  • Calidad constante de la materia prima con detección temprana de fluctuaciones
  • Evaluación de la estrategia de reciclado/reutilización de materiales
Inspección de defectos internos y estructurales

Inspección de defectos internos y estructurales

Integridad estructural de la pieza

Desafíos:

  • Eliminación de defectos, como poros y grietas por encima de un tamaño crítico para cumplir los requisitos de rendimiento estático o de fatiga
  • Las inclusiones de material pueden aumentar la fragilidad localizada de la pieza

Su ventaja con ZEISS:

  • Microscopía óptica: inspección visual para identificar fallos superficiales o imágenes de la superficie de fractura para identificar el modo de fallo y el posible punto de iniciación
  • Microscopía electrónica de barrido para obtener imágenes de alta resolución de las características de la fractura, la propagación del fallo y el análisis elemental para confirmar la composición correcta del material; también se realiza mediante SEM con EDS para identificar el origen del defecto
  • Tomografía computarizada de Rayos X y microscopía de Rayos X: exploraciones volumétricas no destructivas de piezas para identificar defectos internos y grietas
Análisis de superficies

Análisis de superficies

Manipulación de superficies sin contacto

Desafíos:

  • Inspección sin contacto de revestimientos estructurales en superficies interiores complejas ocultas (estructuras porosas/trabeculares)
  • Caracterización del revestimiento superficial activo (hidroxiapatita) e identificación del grosor/estructura de los revestimientos superficiales protectores (tratamientos anticorrosión)

Su ventaja con ZEISS:

  • Soluciones LM y SEM: cumplir los requisitos de superficies externas, caracterización completa de revestimientos, capas o tratamientos superficiales
  • CT y microscopía de Rayos X: Manejar superficies internas complejas ocultas
  • CMM: medición de forma, tamaño y posición con ZEISS DotScan y medición de rugosidad táctil con ZEISS ROTOS
Análisis del revestimiento

Análisis del revestimiento

Sólido control de calidad con ayuda de la IA

Desafíos:

  • Necesidad de la máxima precisión para controlar la calidad de las estructuras con revestimiento superficial conforme a las normas internacionales (DIN ISO, ASTM)
  • Las estructuras complejas requieren un análisis de software avanzado basado en la IA para garantizar la calidad y productividad de las piezas

Su ventaja con ZEISS:

  • Microscopía combinada (LM y SEM): ZEISS ZEN core software suite para microscopía multimodal, métodos de análisis robustos que proporcionan resultados repetibles y reproducibles
  • Microscopía de Rayos X: imágenes no destructivas con resolución submicrónica
  • Plataforma ZEISS ZEN core IA con ZEISS arivis Cloud para el análisis de imágenes AI basado en el deep learning
Análisis de limpieza técnica

Análisis de limpieza técnica

Flujos de trabajo adaptables y correlativos

Desafíos:

  • Detección de contaminación por partículas que cumple normas estrictas, por ejemplo, VDI 2083 página 21
  • Desglose y clasificación de partículas de alta calidad

Su ventaja con ZEISS:

  • Soluciones de limpieza técnica de ZEISS: flujo de trabajo adaptable con el módulo central ZEISS ZEN core con análisis, informes y archivado en unos pocos clics
  • Combinación de datos de microscopía óptica y microscopía electrónica de barrido en una solución correlativa para aumentar la productividad y simplificar el proceso de limpieza técnica
Ensayos no destructivos y control de ensamblaje

Ensayos no destructivos y control de ensamblaje

Inspección no destructiva de ensamblajes completos

Desafíos:

  • Los dispositivos de administración de fármacos requieren un estricto proceso de control de calidad para el control del ensamblaje
  • Los ensayos no destructivos (END) son fundamentales para evaluar la interacción de los componentes internos y mantener intacto el dispositivo médico

Su ventaja con ZEISS:

  • Microscopía de Rayos X: visualización y evaluación de estructuras internas submicrónicas, incluidos los principios activos
  • Tomografía computarizada por Rayos X: para la caracterización completa y no destructiva de estructuras y componentes internos
  • La caracterización completa del dispositivo permite evaluar la porosidad, las inclusiones, la geometría y la funcionalidad ensamblada
  • Evaluación rápida mediante IA de las zonas no conformes y visualización clara en 3D
Análisis dimensional externo

Análisis dimensional externo

Manipulación precisa de superficies y tolerancias

Desafíos:

  • Medición y verificación de todas las especificaciones geométricas de producto (GPS) de estructuras de superficie 3D complejas
  • Medición sin contacto de superficies espejadas de precisión y componentes de plástico flexible no táctiles
  • Cumplir los requisitos de carga múltiple para aumentar la productividad

Su ventaja con ZEISS:

  • Escáneres ópticos: escaneado sencillo de componentes frágiles/flexibles. Los sistemas manuales y automáticos autoinspeccionan lotes de piezas sin verse afectados por geometrías complejas
  • CMM (multisensor): sistemas multisensor flexibles, exploración activa de rango micrométrico y localización de partes críticas de la geometría propensas a problemas de calidad
  • Tomografía computarizada por Rayos X: medición simultánea de las características interiores y exteriores
Análisis dimensional interno

Análisis dimensional interno

Visualización, comparación y verificación

Desafíos:

  • Control de calidad de características internas estructuralmente importantes con imágenes de alta resolución
  • Visualización no destructiva de estructuras internas complejas

Su ventaja con ZEISS:

  • Microscopía de Rayos X: imágenes no destructivas con resolución submicrónica
  • Rayos X y CT: realizar inspecciones dimensionales y digitalizar piezas complejas, incluidas las geometrías internas
Análisis de propiedades mecánicas

Análisis de propiedades mecánicas

Medición óptica en 3D

Desafíos:

  • Galgas extensométricas/transductores de desplazamiento difíciles de acoplar a dispositivos médicos pequeños: datos incompletos, precisión reducida, no adecuados para biomateriales delicados y blandos como tejidos y tendones
  • Resultados difíciles de interpretar debido a los complejos patrones de movimiento de la cinemática del cuerpo humano
  • Un implante mal fijado puede moverse y alterar los resultados de las pruebas

Su ventaja con ZEISS:

  • Sistema de medición ZEISS ARAMIS 3D: analiza el movimiento y la deformación del producto sometido a prueba
  • Medición óptica sin contacto: sin interferencias biomecánicas del producto de prueba, sin deslizamiento de la banda extensométrica, sin fijaciones inadecuadas del sensor
  • Gracias a su rápida configuración, los componentes del banco de pruebas también pueden integrarse en la medición
  • Base de datos de mediciones holística adecuada para una interpretación visual intuitiva

Vea cómo nuestros clientes han experimentado las soluciones para la industria médica de ZEISS

Descargar

  • ZEISS Medical Industry Solutions Brochure Research and Development EN

    5 MB


Contacto

¿Le interesa conocer mejor nuestros productos o servicios? Estaremos encantados de ofrecerle más detalles o una demostración en directo, a distancia o en persona.

¿Necesita más información?

Póngase en contacto con nosotros. Nuestros expertos se pondrán en contacto con usted.

Cargando el formulario...

/ 4
Siguiente paso:
  • Consulta de intereses
  • Datos personales
  • Datos de la empresa

Si desea obtener más información sobre el procesamiento de datos en ZEISS, consulte nuestra Política de Privacidad.